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日本エフイー・アイ株式会社の募集が終了した求人

サービスエンジニア／世界トップクラスのシェアを誇る「電子顕微鏡」で世界中の研究・開発に貢献する

正社員

募集背景

電子顕微鏡・集束イオンビーム顕微鏡の分野にて、業界トップクラスのシェアを誇るFEIグループ。材料科学、ライフサイエンス、天然資源、電子デバイスの研究・開発など、最先端科学をサポートし続け、60年あまりになります。 50カ国以上で導入され、世界中の研究・開発者から支持を集めるグローバル企業であるゆえ、世界各国の人材と交流ができ、最先端の技術を磨くことが可能。この度は、さらに多くの需要にお応えし、ビジネス拡大を図るため人材の募集を行います。

仕事内容

サービスエンジニアとして、電子顕微鏡の性能を最大限に活かすサポート業務に携わっていただきます。
具体的な仕事内容
■お客様先設置の機器メンテナンス
最先端の研究・開発において、
電子顕微鏡の性能を最大限に発揮するためには定期的なメンテナンスは不可欠。
消耗品の交換やソフト・ハード面でのトラブルシューティングを行っていただきます。

■電子顕微鏡の設置（企画～据付）
「ナノ」の世界を観察する電子顕微鏡の性能を最大限に発揮させるには、
設置場所の環境整備も重要項目となります。
企画段階で設置場所に出向き、設置レイアウトを検討するなど、セールスのサポートを行うことも。
専門的な知識を持ったエンジニアとして、製品導入・安定化のフェーズを支援します。

【入社後はまず研修から】

電子顕微鏡という特殊な分野ですので、現スタッフの多くも異業界出身。
まずは先輩に同行していただき、基礎から学んでいただきます。
社内勉強会やオランダ・中国・アメリカなどでの海外研修などを経験していただき、
約3年間をかけプロフェッショナルに成長していただく計画です。

チーム／組織構成
現在、国内に600台あまりが設置されており、
小さな案件には基本的には1人で（入社3カ月は先輩が同行）、
大規模なものには2～3名のチームで対応していただきます。
1案件あたりにかける日数は短い案件で2日、長いものでは数カ月。
求められるのは数ではなく“質”です。
高精度が要求される部品のメンテナンスには高い技術が必要。
エンジニアとしてのスキルを発揮してください。

対象となる方

【第二新卒者・異業界出身者歓迎】大学理系学部・高専卒以上の方
【歓迎するスキル】
◎電子顕微鏡の設置、修理、使用経験がある方は優遇します。
・電気・電子機械系の専門知識、物理・物質科学の専門知識
・整備士やサービスエンジニア経験（分野不問）
・業務上での機械設計及び電子回路設計経験など、何らかのものづくり経験

【このような方をお待ちしています】
■高いクオリティの実現を目指し、細部までこだわった仕事ができる方
■向上心を持ち仕事に臨める方
■課題解決の為、自ら行動・提案できる方
■論理的思考を持ち、業務に取り組める方
■仲間と協力し、一つの目標達成を目指せる方
■積極的にコミュニケーション取って業務にあたれる方

選考のポイント

■語学力について
英語・中国語を使ってコミュニケーションできる方は優遇します。
英語・中国語やその他外国語に抵抗が無く、積極的に学ぶ姿勢をお持ちであれば、入社後のトレーニングでスキルアップ可能です。

勤務地

＜直行直帰が中心です＞
自宅を拠点に、お客様先に直行直帰のスタイルで働けます。
交通費は会社が全額支給。出張手当支給。

≪担当エリア≫

■関東エリア
東京都、神奈川県、千葉県、埼玉県
茨城県、栃木県、群馬県

■山陰エリア
広島県、岡山県

※場合により、海外対応もあります

【本社】
東京都港区港南2-13-34NSS-IIビル4F
※数カ月に一回、エンジニア全体ミーティングがあります。
＜アクセス＞
「品川駅」より徒歩6分

勤務時間

9：00～18：00（実働8時間）

◎残業時間、月平均20時間程度

雇用形態

正社員

給与

月給30万円～54万円
※経験やスキル、前職での給与を考慮した上で決定します。

■賞与
2回／年

※プロフィットシェアリング

■昇給
1回／年
■社員の年収例
年収500万円／28歳／月給41万6000円＋残業代、賞与
年収650万円／35歳／月給54万円＋残業代、賞与

待遇・福利厚生・各種制度

■昇給年1回（5月）
■交通費全額支給
■社会保険完備
■時間外手当支給
■確定拠出年金制度
■PC・携帯電話貸与

休日・休暇

＜休日・休暇＞
■完全週休2日制（土・日）
■祝日
■年末年始
■有給休暇（有給消化には積極的です）
■シックリーブ（有給傷病休暇）
■慶弔休暇

◎年間休日120日以上

≪扱う製品≫

■透過電子顕微鏡 (TEM)
観察対象に電子線をあて、それを透過してきた
電子が作り出す干渉像を拡大して観察するタイプの電子顕微鏡。

■走査型電子顕微鏡(SEM)
電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、
対象物から放出される二次電子、反射電子（後方散乱電子、BSE）、
透過電子、X線、カソードルミネッセンス（蛍光）、内部起電力等を
検出する事で対象を観察するタイプの電子顕微鏡。

■集束イオンビーム装置（FIB）
イオンを電界で加速したビームを細く絞ったもので試料を加工、観察。