日本エフイー・アイ株式会社の過去求人・中途採用情報

【電子顕微鏡のメンテナンス・据付など】世界最先端の技術を優秀なエンジニアと共に磨くことができます
具体的な仕事内容
【1】定期メンテナンス、トラブル対応
電子顕微鏡の性能を最大限に発揮するためには定期的なメンテナンスが必要不可欠。消耗品の交換や診断を行います。装置トラブルの対応ではソフト、ハードウェアなどの幅広い知識が求められます。

【2】電子顕微鏡の設置（企画～据付）
「ナノ」や「オングストローム」の世界を観察、分析するだけに当社の電子顕微鏡は非常に繊細です。このため、新たな機器や装置を導入する際には、製品仕様検討段階から営業と一緒にお客様先へ出向き、設置レイアウトの検討などを通じてセールスのサポートを行います。

■自らの裁量で仕事を動かす
当社の製品は現在、国内に約1000台設置されています。対してサービスエンジニアは40～50名。少数精鋭型の組織なので、仕事のスケジューリングなどは個々の裁量に任されています。小さな案件には基本的に1人で対応しますが、なにか困ったり迷ったりした際にはいつでも上司や先輩に相談できますのでご安心ください。大規模な案件には2～3名のチームで対応。アプリケーションエンジニアをはじめとする他セクションのメンバーとともに動くこともあります。

■充実の研修プログラム
入社後3カ月～1年は先輩に同行し、基礎を学びます。不具合の原因を論理的に導き出す思考トレーニングなどを実施し、サービスエンジニアとしての基盤を築いていきます。その後は、社内勉強会やオランダ・中国・アメリカでの海外研修を受講し、3年かけてプロフェッショナルに成長していただく計画です。語学は入社後に学んでいただければ十分！独特の技術英語を使いますが、慣れればスムーズに扱えるようになります。

チーム／組織構成
【グローバルな仕事環境】 アメリカ・イギリス・フランス・中国など、世界各国から優秀なエンジニアが集まっています。文化の違いなど、仕事以外の面でも視野が広がります。

【未経験者が多数活躍中】 電子顕微鏡や収束イオンビーム装置を扱う特殊な分野だけに、現在活躍中のサービスエンジニアのほとんどが電子顕微鏡の操作、保守以外の分野からの入社組。分析機器や半導体装置メーカー、機械設計や回路設計など、前職はさまざま。電気電子、機械の基本的な知識があれば入社後のトレーニングやご自身の努力で活躍することができます。

【業界・職種未経験・第二新卒歓迎】大学工学部・高専卒・工学系専門学校卒以上／英語に抵抗のない方
＜必須条件＞
■大学工学部・高専卒・工学系専門学校卒以上
■英語に抵抗のない方　
※英語に抵抗が無く、学びたいという姿勢をお持ちの方であれば、入社後のトレーニングにてスキルアップ可能です。
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＜歓迎条件＞
■製品問わずサービスエンジニアの実務経験がある方
■理化学機器・分析機器の使用経験がある方
■装置のネットワークへの接続及びPC操作のできる方
■半導体及び半導体製造装置業界での実務経験がある方

【直行直帰が中心です】
自宅を拠点に、お客様先に直行直帰のスタイルで働けます。
交通費は会社が全額支給。出張手当も支給します。

■関東エリア 東京都、神奈川県、千葉県、埼玉県 茨城県、栃木県、群馬県
■東北エリア 宮城県、岩手県
■関西、東海エリア 大阪府、京都府、滋賀県、兵庫県、愛知県、三重県
■中国、九州エリア 広島県、福岡県、熊本県、長崎県

※担当エリアは希望を考慮し決定します。
※場合により、海外出張もあります。

9：00～18：00（実働1日8時間）
■平均残業時間
20時間

正社員

月給30万円～54万円
※経験やスキル、前職での給与を考慮した上で決定

■賞与
年1回
（業績賞与）

■昇給
年1回

■入社時の想定年収
年収360万円

■社員の年収例
650万円／33歳／月給50万円＋残業代、賞与
550万円／28歳／月給41万円＋残業代、賞与

■交通費全額支給
■社会保険完備
■時間外手当支給
■確定拠出年金制度
■PC・携帯電話貸与
■研修制度（社内勉強会、海外研修など）

＜年間休日＞
122日
以上

＜休日・休暇＞
■完全週休2日制
（土日）
■祝日休み
■年末年始休暇　
（12月29日～1月4日）
■夏季休暇
（5日間／6月～10月）
■慶弔休暇　
■有給休暇　
（有給消化には積極的。取得実績は年間平均12日）
■育児休暇
（有給育児看護休暇　年間5日間）
■介護休暇
（有給介護休暇　年間5日間）
■シックリーブ（有給傷病休暇）

■透過電子顕微鏡 (TEM) 観察対象に電子線をあて、それを透過してきた電子が作り出す干渉像を拡大して観察するタイプの電子顕微鏡。

■走査電子顕微鏡　(SEM) 電子線を絞って電子ビームとして試料に照射し、そこから放出される二次電子などを検出することで、試料を観察するタイプの電子顕微鏡。

■集束イオンビーム装置（FIB） イオンを電界で加速したビームを細く絞ったもので試料を加工、観察。