日本エフイー・アイ株式会社の過去求人・中途採用情報

【電子顕微鏡のメンテナンス・据付など】世界中の優秀なエンジニアに囲まれながら技術を磨くことができます
具体的な仕事内容
【1】定期メンテナンス
電子顕微鏡の性能を最大限に発揮するためには定期的なメンテナンスが必要不可欠。消耗品の交換やソフト・ハード面のトラブルシューティングを行います。

【2】電子顕微鏡の設置（企画～据付）
「ナノ」や「ピコ」の世界を観察するだけに、当社の電子顕微鏡は非常に繊細です。このため、新たな機器や装置を導入する際には、企画段階から営業と一緒にお客様先へ出向き、設置レイアウトの検討などを通じてセールスのサポートを行います。専門的な知識を持ったエンジニアとして、製品導入・安定化のフェーズを支援します。

※豊富なスキルやマネジメント経験をお持ちの方には、早期の段階からポジションをご用意します。

【自らの裁量で仕事を動かす】
当社の製品は現在、国内に約1000台設置されています。対してサービスエンジニアは40～50名。少数精鋭型の組織なので、仕事のスケジューリングなどは個々の裁量に任されています。小さな案件には基本的に1人で対応しますが、なにか困ったり迷ったりした際にはいつでも上司や先輩に相談できますのでご安心ください。大規模な案件には2～3名のチームで対応。アプリケーションエンジニアをはじめとする他セクションのメンバーとともに動くこともあります。

【充実の研修プログラム】
入社後3カ月～1年は先輩に同行し、基礎を学びます。不具合の原因を論理的に導き出す思考トレーニングなどを実施し、サービスエンジニアとしての基盤を築いていきます。その後は、社内勉強会やオランダ・中国・アメリカでの海外研修を受講し、3年かけてプロフェッショナルに成長していただく計画です。語学は入社後に学んでいただければ十分！独特の技術英語を使いますが、慣れればスムーズに扱えるようになります。

チーム／組織構成
【グローバルな仕事環境】 アメリカ・イギリス・フランス・スウェーデン・中国など、世界各国から優秀なエンジニアが集まっています。文化の違いなど、仕事以外の面でも視野が広がります。

【未経験者が多数活躍中】 電子顕微鏡という特殊な分野だけに、現在活躍中のサービスエンジニアのほとんどが業界未経験からの入社組。分析機器や半導体装置メーカー、機械設計や回路設計など、前職はさまざまです。

【未経験者】大学工学部・高専卒・工学系専門卒以上【管理職候補】精密機器・産業用装置のメンテナンス経験
【エンジニア】
■大学工学部・高専卒・工学系専門学校卒以上の方
■英語に抵抗のない方、英語でのコミュニケーションに興味がある方
※英語を学びたいという姿勢の方であれば入社後のトレーニングにてスキルアップ可能です。
※未経験歓迎

【マネージャー候補】
■精密機器・産業用装置のメンテナンス実務経験がある方
■英語を使った実務経験がある方
※規模を問わずマネジメント経験がある方歓迎

＜このような方も歓迎＞
■理化学機器・分析機器の使用経験がある
■製品問わずサービスエンジニアの実務経験がある
■装置のネットワークへの接続及びPC操作ができる
■半導体及び半導体製造装置業界での実務経験がある

これまでも「当社の電子顕微鏡の元ユーザー」という社員が多数入社しています。ユーザーとしての目線をお持ちの方からのご応募も大歓迎です。

【直行直帰が中心です】
自宅を拠点に、お客様先に直行直帰のスタイルで働けます。
交通費は会社が全額支給。出張手当も支給します。

■関東エリア：東京都、神奈川県、千葉県、埼玉県 茨城県、栃木県、群馬県
■東北エリア：宮城県、岩手県
■関西、東海エリア：大阪府、京都府、滋賀県、兵庫県、愛知県、三重県
■中国、九州エリア：広島県、福岡県、熊本県、長崎県

※担当エリアは希望を考慮し決定します。
※場合により、海外出張もあります。

9：00～18：00（実働1日8時間）
■平均残業時間
20時間

正社員

【エンジニア】
月給35万円～

【マネージャー】
月給65万円～

※経験やスキル、前職での給与を考慮した上で決定

■賞与
年1回
（業績賞与）

■昇給
年1回

■入社時の想定年収
年収450万円
～　（エンジニア）
年収870万円
～　（マネージャー）

■交通費全額支給
■社会保険完備
■時間外手当支給
■確定拠出年金制度
■PC・携帯電話貸与
■研修制度（社内勉強会、海外研修など）
■服装自由

＜年間休日＞
122日
以上

＜休日・休暇＞
■完全週休2日制
（土日）
■祝日休み
■年末年始休暇　
（12月29日～1月4日）
■夏季休暇
（6月～10月に5日間の特別有給あり）
■慶弔休暇　
■有給休暇　
（有給消化には積極的。取得実績は年間平均12日）
■シックリーブ（有給傷病休暇）

■透過電子顕微鏡 (TEM) 観察対象に電子線をあて、それを透過してきた電子が作り出す干渉像を拡大して観察するタイプの電子顕微鏡。

■走査電子顕微鏡　(SEM) 電子線を絞って電子ビームとして試料に照射し、そこから放出される二次電子などを検出することで、試料を観察するタイプの電子顕微鏡。

■集束イオンビーム装置（FIB） イオンを電界で加速したビームを細く絞ったもので試料を加工、観察。